半导体测试基础 - 功能测试

半导体测试基础 - 功能测试

码农世界 2024-05-27 后端 62 次浏览 0个评论

功能测试(Functional Test)主要是验证逻辑功能,是运用测试矢量和测试命令来进行的一种测试,相比于纯 DC 测试而言,组合步骤相对复杂且耦合度高。

半导体测试基础 - 功能测试

在功能测试阶段时,测试系统会以周期为单位,将测试矢量输入 DUT,提供预测的结果并与输出的数据相比较,如果实际的结果与测试矢量预测值不相符,则认为不通过。

基本概念

测试矢量(Test Vectors)

测试矢量也称测试模式(Test Pattern),可以理解为器件被设计逻辑功能的输入输出真值表。Test Vectors 强调时序,一般是一系列输入输出的组合。一般用 0/1 表示输入低 / 高电平,用 L/H/Z 表示输出低电平 / 高电平 / 高阻态,用 X 表示既无输入也无输出。

总功能测试

各种参数的功能测试法

OS 测试 - 功能测试法

开短路不属于功能,但也可以用功能测试的方法进行测试,关闭 PMU 和 Driver,用 Current Load 和 Voltage Receiver 进行测试。测试示意图如下:

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